關于定量法
升溫熱脫附質譜儀中的定量
本資料基于平下・內山的分析化學報告【N.Hirashita和T.Uchiyama，BUNSEKI KAGAKU，43，757（1994）】。
通過升溫熱脫附質譜儀測量的升溫熱脫附光譜，可以對脫附氣體進行定量。
當測量室的排氣速度比脫附氣體引起的測量室壓力變化大得多時，脫附氣體組分壓的變化與單位時間的脫附量（脫附速度）成正比。
在質譜儀中，離子電流和分壓成正比，因此，離子電流和脫附速度成正比，可以根據積分離子電流的面積強度來計算總脫附量。
如果使用注入了已知量的H+的Si試樣求出面積強度和脫離量的比例系數,就可以根據各種試樣的m/z2的面積強度來決定氫的脫附量。
對于非氫分子，可以根據氫和目標分子的電離難易度，因子和透射率等參數計算比例系數。
這個比例系數可以用來定量氫以外的分子。