关于定量法
升温热脱附质谱仪中的定量
本资料基于平下・内山的分析化学报告【N.Hirashita和T.Uchiyama，BUNSEKI KAGAKU，43，757（1994）】。
通过升温热脱附质谱仪测量的升温热脱附光谱，可以对脱附气体进行定量。
当测量室的排气速度比脱附气体引起的测量室压力变化大得多时，脱附气体组分压的变化与单位时间的脱附量（脱附速度）成正比。
在质谱仪中，离子电流和分压成正比，因此，离子电流和脱附速度成正比，可以根据积分离子电流的面积强度来计算总脱附量。
如果使用注入了已知量的H+的Si试样求出面积强度和脱附量的比例系数,就可以根 据各种试样的m/z2的面积强度来决定氢的脱附量。
对于非氢分子，可以根据氢和目标分子的电离难易度，裂解因子和透射率等参数计算比例系数。
这个比例系数可以用来定量氢以外的分子。